سامانه جامع مدیریت اطلاعات آزمایشگاهی دانشگاه صنعتی شریف

1-10000 نانومتر

اندازه گیری ضخامت لایه نازک و همچنین تعیین ضرایب اپتیکی. قبل از ثبت درخواست با اپراتور تماس گرفته شود. شماره تماس: 02166164117

تعیین ضریب شکست لایه‌های نازک، تعیین ضریب خاموشی لایه‌های نازک، تعیین ضخامت لایه‌های نازک

ضخامت سنجی و تعیین ضرایب اپتیکی

تنها نمونه‌هایی پذیرفته می‌شود که زیرلایه‌ی آن‌ها سیلیسیم یا ژرمانیم باشد. پارامترهای اپتیکی در محدوده طول موجی 280 تا 820 نانومتر اندازه گیری میشود.

دستورالعمل استاندارد به کارگیری اسپکتروفتومتر و انجام یک آزمون استاندارد ( Standard Guide for Establishing Spectrophotometer Performance Tests-ASTM E1866-E 275 )

این دستگاه برای اندازه گیری طیف جذب و انعکاس و عبور از نمونه های محلول و فیلم میباشد.این دستورالعمل استاندارد برای بهینه کردن یک آزمون استاندارد می باشد.

اندازه‌گیری در بازه‌ی طول‌موجی ۲۸۰ تا ۸۲۰ نانومتر صورت می‌پذیرد. تنها لایه‌هایی نازکی پذیرفته می‌شوند که زیرلایه‌ی آن‌ها سیلیسیم یا ژرمانیم باشد.

نام : تعیین ضخامت و پارامترهای اپتیکی لایه‌های اکسید بر روی سیلیسیم و نمونه‌های مشابه ( Optical Parameters )