آزمون الیپسومتری (ضخامت سنجی)
مجموعه آزمایشگاه های مرکز علوم و فناوری نانو ( Laboratories of Nano Science and Technology Research Center )
آزمون الیپسومتری (ضخامت سنجی)
1-100000 نانومتر
اندازه گیری ضخامت لایه نازک و همچنین تعیین ضرایب اپتیکی. قبل از ثبت درخواست با اپراتور تماس گرفته شود. شماره تماس: 02166164117
دستگاه بیضی سنج
تعیین ضریب شکست لایههای نازک، تعیین ضریب خاموشی لایههای نازک، تعیین ضخامت لایههای نازک
ضخامت سنجی و تعیین ضرایب اپتیکی
قبل از ثبت درخواست با اپراتور تماس گرفته شود. نمونه کاملا صاف و فاقد زبری باشد. پارامترهای اپتیکی در محدوده طول موجی 450 تا 800 نانومتر اندازه گیری میشود.
استاندارد ASTM 1866
دستورالعمل استاندارد به کارگیری اسپکتروفتومتر و انجام یک آزمون استاندارد ( Standard Guide for Establishing Spectrophotometer Performance Tests-ASTM E1866-E 275 )
این دستگاه برای اندازه گیری طیف جذب و انعکاس و عبور از نمونه های محلول و فیلم میباشد.این دستورالعمل استاندارد برای بهینه کردن یک آزمون استاندارد می باشد.
مواد مختلف دارای خواص نوری، شیمی،معدن،متالورژی ،دارو سازی و ...
نمونه مجموعه آزمایشگاه های پژوهشکده علوم وفناوری نانو
پارامتر (ها)
اندازه گیری در محدوده طول موج 280 تا 820 نانومتر همراه با مدل سازی هر نمونه (استخراج پارامترهای اپتیکی و تعیین ضخامت) ( Optical Parameters )
اطلاعات تماس
اطلاعات تماس اپراتورهای مجموعه آزمایشگاههای مرکز علوم و فناوری نانو:
روح الله امینی- 02166164147
رضا جلیلیان- 02166164117
فرزانه خجسته چترودی- 02166164147
محمد مهدی دباغ- 02166164125
محدثه وفایی- 02166164117