آزمون الیپسومتری (ضخامت سنجی)

مجموعه آزمایشگاه های مرکز علوم و فناوری نانو ( Laboratories of Nano Science and Technology Research Center )

آزمون الیپسومتری (ضخامت سنجی)

1-100000 نانومتر

اندازه گیری ضخامت لایه نازک و همچنین تعیین ضرایب اپتیکی. قبل از ثبت درخواست با اپراتور تماس گرفته شود. شماره تماس: 02166164117

دستگاه بیضی سنج

تعیین ضریب شکست لایه‌های نازک، تعیین ضریب خاموشی لایه‌های نازک، تعیین ضخامت لایه‌های نازک

ضخامت سنجی و تعیین ضرایب اپتیکی

قبل از ثبت درخواست با اپراتور تماس گرفته شود. نمونه کاملا صاف و فاقد زبری باشد. پارامترهای اپتیکی در محدوده طول موجی 450 تا 800 نانومتر اندازه گیری میشود.

استاندارد ASTM 1866

دستورالعمل استاندارد به کارگیری اسپکتروفتومتر و انجام یک آزمون استاندارد ( Standard Guide for Establishing Spectrophotometer Performance Tests-ASTM E1866-E 275 )

این دستگاه برای اندازه گیری طیف جذب و انعکاس و عبور از نمونه های محلول و فیلم میباشد.این دستورالعمل استاندارد برای بهینه کردن یک آزمون استاندارد می باشد.

مواد مختلف دارای خواص نوری، شیمی،معدن،متالورژی ،دارو سازی و ...

نمونه مجموعه آزمایشگاه های پژوهشکده علوم وفناوری نانو

پارامتر (ها)

1

اندازه گیری در محدوده طول موج 450 تا 800 نانومتر همراه با مدل سازی هر نمونه (استخراج پارامترهای اپتیکی و تعیین ضخامت) ( Optical Parameters )

(ريال)

اطلاعات تماس

اطلاعات تماس اپراتورهای مجموعه آزمایشگاه‌های مرکز علوم و فناوری نانو:

روح الله امینی- 02166164147

رضا جلیلیان- 02166164117

فرزانه خجسته چترودی- 02166164147

محمد مهدی دباغ- 02166164125

محدثه وفایی- 02166164117

ثبت درخواست